Upute za upotrebu i mjere opreza za ispitivanje elektrostatičkog polja
1. Prije mjerenja, prvo provjerite da li napajanje zadovoljava specifikacije, da li je kućište instrumenta (uključujući vanjski štit sonde) pravilno uzemljeno i instrument mora biti postavljen na nulu prije testiranja.
2. Ispitnu sondu ne treba postavljati u prostorni položaj okomito na površinu naelektrisanog objekta koji se meri (prema ispitnom rastojanju navedenom u uputstvima instrumenta). Varijacije u udaljenosti testa dovest će do značajnih grešaka u testiranju. Kako bi se izbjeglo pražnjenje iskre između nabijenog objekta i kućišta sonde, sonda se mora postaviti na relativno udaljenu poziciju (udaljeno od nabijenog objekta) na početku mjerenja, postepeno se približavajući nabijenom objektu.
3. Prilikom testiranja površinskog potencijala, površina naelektrisanog objekta općenito treba biti dovoljno udaljena od elektrode za uzemljenje. Ako je nabijeni predmet tanak sloj ili film, a njegova stražnja strana je blizu elektrode za uzemljenje, kada se sonda pomjeri blizu elektrode za uzemljenje, postoji opasnost od prostornog pražnjenja ili površinskog pražnjenja zbog inducirane koncentracije lokalnih naboja.
4. Kada je izmjereni dio naelektrisanog objekta velika ravna ploča, mjerna vrijednost je relativno tačna. Međutim, kada površina naelektrisanog objekta ima određeni polumjer zakrivljenosti, izmjerena vrijednost će se značajno razlikovati od stvarne vrijednosti potencijala.
5. Treba uzeti u obzir uticaj sopstvenih karakteristika instrumenta na tačnost ispitivanja. Prije upotrebe treba izvršiti redovnu kalibraciju i standardizaciju.
6. Dubina zaštite sonde ima određeni uticaj na tačnost ispitivanja. Induktivni testeri elektrostatičkog polja u suštini testiraju lokalno električno polje naelektrisanog objekta; stoga je bitno minimizirati smetnje i utjecaj vanjskih električnih polja na ispitni signal. Uobičajena metoda je ugradnja takvih instrumenata i njihovih sondi u uzemljeno zaštićeno kućište. Očigledno je da će preterano duboka spoljašnja zaštitna navlaka smanjiti tačnost testiranja instrumenta, dok je preterano plitka lako podložna uticaju spoljašnjih električnih polja.
7. Vrijednost dobivena ispitivanjem površinskog potencijala objekta može se koristiti kao kvalitativna referenca. Precizno mjerenje je teško postići u praktičnom radu zbog različitih faktora.
8. Elektrostatički voltmetri koji se koriste u elektronskoj industriji obično moraju uzeti u obzir tačnost testiranja i trebali bi biti u stanju da mjere elektrostatički napon unutar ±10V.